KS C 2607-1980
МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВ

Стандартный №: KS C 2607-1980
Дата публикации: 1980
Разместил: Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
состояние: снять со счета
быть заменен: KS C 2607-1974(2000)
Последняя версия: KS C 2607-2002

KS C 2607-1980 История

2002 KS C 2607-2002 МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВ
0000 KS C 2607-1974(2000)
1980 KS C 2607-1980 МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВ

Специальные темы по стандартам и нормам

Как измеряется модуль Юнга? Как определить уровень ртути Как измеряется критическая точка Как измерить калий Как измерить содержание гидроксила Как измеряется температуропроводность Схема измерения проводимости Как измерить коробление Как проверить сахар Как измеряется поток пермеата Как измерить качество воды Как измерить содержание элементов

стандарты и спецификации

KS M 1804-2008 Метод испытания плавиковой кислоты для полупроводников KS C 2607-2002 МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВ KS C 2607-1974(2000 МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВ CNS 5076-1988 Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность дискретных полупроводниковых приборов (испытание на вибрацию ANSI/ASTM E1161:1996 Метод испытаний радиологического исследования ASTM E1161-03 испытаний радиологического исследования полупроводников ASTM E1161-95 испытаний радиологического исследования полупроводников ASTM F76-08(2016 Стандартные методы измерения удельного сопротивления, коэффициента Холла и определения холловской подвижности в монокристаллических полупроводниках ISO 21859:2019 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания плазменной стойкости керамических компонентов

© 2025. Все права защищены.