JEDEC JEP78-1969
Относительные кривые спектрального отклика полупроводниковых инфракрасных детекторов
- Стандартный №
- JEDEC JEP78-1969
- Дата публикации
- 1969
- Разместил
- (U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
- Последняя версия
- JEDEC JEP78-1969
- сфера применения
- Заштрихованные области следующих S-кривых указывают диапазон спектральных форм, которые можно ожидать, если фотодетектор определенного типа получен от нескольких разных производителей. Следует отметить, что спектральная чувствительность некоторых типов фотодетекторов (в частности, солевых и кремниевых детекторов) может изменяться в процессе изготовления. Показанные здесь кривые представляют собой наиболее распространенные или «типичные» типы детекторов.
JEDEC JEP78-1969 История
- 1969 JEDEC JEP78-1969 Относительные кривые спектрального отклика полупроводниковых инфракрасных детекторов
Специальные темы по стандартам и нормам
Стандартная кривая инфракрасного масломера
Прибор для тестирования дальнего инфракрасного излучения
Прибор для тестирования дальнего инфракрасного излучения
Полупроводник + инфракрасное обнаружение
инфракрасный термометр
Инфракрасный детектор жизни
Кривая инфракрасного спектра
относительная спектральная кривая
Инфракрасный инструмент для выравнивания
Инфракрасный инструмент для выравнивания
Инфракрасный инструмент выравнивания
Спектральная кривая отклика PD
стандарты и спецификации
GJB 9146-2017 Общие характеристики неохлаждаемых инфракрасных детекторов в фокальной плоскости
ASTM E2911-13 Стандартное руководство по коррекции относительной интенсивности рамановских спектрометров
CIE 089-1991 Техническая коллекция 1990 г
IEC 60747-5-2:1997 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5-2. Оптоэлектронные устройства. Основные номинальные характеристики и характеристики
GSO IEC 60747-5-2:2014 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5-2. Оптоэлектронные устройства. Основные номинальные характеристики и характеристики
ASTM E2310-09 Стандартное руководство по использованию спектрального поиска с помощью алгоритмов сопоставления кривых с данными, зарегистрированными с помощью спектроскопии
IEEE Std 301-1969*ANSI N42.2-1969 Процедуры испытаний IEEE для усилителей и предусилителей полупроводниковых детекторов радиации (для ионизирующего излучения
ISO 17328:2021 Оптика и фотоника. Оптические материалы и компоненты. Метод определения показателя преломления инфракрасных оптических материалов
IEEE No 300-1969*USAS N42.1-1969 Стандарт США и процедура испытаний IEEE для полупроводниковых детекторов радиации (для ионизирующего излучения