IEC 61788-3:2006
Сверхпроводимость. Часть 3. Измерение критического тока. Критический постоянный ток оксидных сверхпроводников Bi-2212 и Bi-2223 с оболочкой из Ag и/или Ag-сплавов.

Стандартный №

IEC 61788-3:2006

Дата публикации

2006

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 61788-3:2006

заменять

IEC 90/184/FDIS:2006 IEC 61788-3:2000

сфера применения

В этой части IEC 61788 описан метод испытаний для определения постоянного критического тока коротких и прямых оксидных сверхпроводников Bi-2212 и Bi-2223 с оболочкой из Ag и/или Ag-сплавов, которые имеют монолитную структуру и форму круглого провода. или плоская или квадратная лента, содержащая одно- или многожильные оксиды. Этот метод предназначен для использования со сверхпроводниками, имеющими критические токи менее 500 А и значения n более 5. Испытание проводится с приложением внешнего магнитного поля и без него. При всех испытаниях в магнитном поле магнитное поле перпендикулярно длине образца. При испытании образца ленты в магнитном поле магнитное поле параллельно или перпендикулярно более широкой поверхности ленты (или одной поверхности, если она квадратная). Во время испытаний испытуемый образец погружают либо в ванну с жидким гелием, либо в ванну с жидким азотом. Отклонения от данного метода испытаний, допущенные при плановых испытаниях, и другие конкретные ограничения приведены в настоящем стандарте.

IEC 61788-3:2006 Ссылочный документ

• IEC 60050-815:2000 Международный электротехнический словарь. Часть 815: Сверхпроводимость

IEC 61788-3:2006 История

• 2006 IEC 61788-3:2006 Сверхпроводимость. Часть 3. Измерение критического тока. Критический постоянный ток оксидных сверхпроводников Bi-2212 и Bi-2223 с оболочкой из Ag и/или Ag-сплавов.
• 2000 IEC 61788-3:2000 Сверхпроводимость. Часть 3. Измерение критического тока; Критический постоянный ток оксидных сверхпроводников Bi-2212 и Bi-2223 в Ag-оболочке