DIN 50433-1:1976
Испытание полупроводниковых неорганических материалов; определение ориентации монокристаллов методом рентгеновской дифракции
- Стандартный №
- DIN 50433-1:1976
- Дата публикации
- 1976
- Разместил
- German Institute for Standardization
- состояние
- Последняя версия
- DIN 50433-1:1976
- сфера применения
- Испытание полупроводниковых неорганических материалов; определение ориентации монокристаллов методом дифракции рентгеновских лучей; определение ориентации монокристаллов методом дифракции лучей X
DIN 50433-1:1976 История
- 1976 DIN 50433-1:1976 Испытание полупроводниковых неорганических материалов; определение ориентации монокристаллов методом рентгеновской дифракции
Специальные темы по стандартам и нормам
стандарты и спецификации
DIN 50433-2:1976 Испытание полупроводниковых неорганических материалов; определение ориентации монокристаллов по фигуре оптического отражения
DIN 50433-3:1982 Испытание материалов для полупроводниковой техники; определение ориентации монокристаллов методом обратного рассеяния Лауэ
ASTM F26-87a(1999 Стандартные методы испытаний для определения ориентации полупроводникового монокристалла
ASTM E82-91(2007 Стандартный метод испытаний для определения ориентации металлического кристалла
ASTM E82-09 Стандартный метод испытаний для определения ориентации металлического кристалла
HB 20116-2012 Метод испытаний для анализа остаточных напряжений на лопатках авиационного двигателя методом дифракции рентгеновских лучей
ASTM RR-D32-1010 1984 D3906-Метод испытаний для определения относительной интенсивности рентгеновской дифракции цеолитсодержащих материалов типа фожазита
HB 6742-1993 Определение кристаллической ориентации монокристаллических лезвий методом рентгеновской обратной фотографии Лауэ
ASTM E82/E82M-14 Стандартный метод испытаний для определения ориентации металлического кристалла