Стандарт DIN 51003:2022, опубликованный Немецким институтом стандартизации (DE-DIN), определяет принципы и определения метода полного отражения рентгеновской флуоресценции (TXRF). Этот метод используется для анализа следовых количеств элементов в различных материалах, таких как жидкости, порошки и твердые поверхности. TXRF является высокочувствительным методом, который позволяет обнаруживать элементы в концентрациях до частей на миллиард (ppb).
Основной принцип TXRF заключается в облучении образца рентгеновскими лучами под очень малым углом, близким к углу полного отражения. Это позволяет минимизировать фоновый шум и увеличить чувствительность анализа. Образец обычно наносится на плоскую подложку, которая отражает рентгеновские лучи, что способствует эффективному возбуждению атомов в образце. В результате этого процесса атомы испускают характеристическое рентгеновское излучение, которое регистрируется детектором и используется для идентификации и количественного определения элементов.
Стандарт DIN 51003:2022 также включает определения ключевых терминов и понятий, связанных с методом TXRF, таких как угол полного отражения, пределы обнаружения и калибровка. Этот стандарт является важным руководством для лабораторий и исследователей, работающих в области аналитической химии и материаловедения, обеспечивая единообразие и точность в проведении анализов.
*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.
© 2025. Все права защищены.