SAE J1752-3-2017
Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем. Процедуры измерения ЭМС интегральных схем. Общие положения и определения.
- Стандартный №
- SAE J1752-3-2017
- Дата публикации
- 2017
- Разместил
- Society of Automotive Engineers (SAE)
- Последняя версия
- SAE J1752-3-2017
- сфера применения
- Данная Рекомендуемая практика SAE предоставляет вспомогательную информацию для процедур измерения выбросов и устойчивости, определенных в SAE J1752.
SAE J1752-3-2017 История
- 2017 SAE J1752-3-2017 Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем. Процедуры измерения ЭМС интегральных схем. Общие положения и определения.
- 2011 SAE J1752-3-2011 Измерение излучаемого излучения интегральных схем — метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц) @ Широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
- 2003 SAE J1752-3-2003 Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем. Процедуры измерения ЭМС интегральных схем. Общие положения и определения.
- 1995 SAE J1752-3-1995 Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем - Процедура измерения излучаемых излучений интегральных схем от 150 кГц до 1000 МГц@ TEM Cell@ Рекомендуемая практика (март 1995 г.)
стандарты и спецификации
SAE J1752/3-2003 Измерение излучений интегральных микросхем TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
SAE J1752/3-2017 Измерение излучаемого излучения интегральных схем — метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
SAE J1752-3-2011 Измерение излучаемого излучения интегральных схем — метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц) @ Широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
SAE J1752-3-1995 Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем - Процедура измерения излучаемых излучений интегральных схем от 150 кГц до 1000 МГц@ TEM Cell@ Рекомендуемая практика (март 1995 г.)