SAE J1752/1-2006 Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем. Процедуры измерения ЭМС интегральных схем. Общие положения и определения. - Стандарты и спецификации PDF

SAE J1752/1-2006
Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем. Процедуры измерения ЭМС интегральных схем. Общие положения и определения.

Стандартный №
SAE J1752/1-2006
Дата публикации
2006
Разместил
Society of Automotive Engineers (SAE)
состояние
быть заменен
SAE J1752/1-2016
Последняя версия
SAE J1752/1-2021
сфера применения
Данная Рекомендуемая практика SAE предоставляет вспомогательную информацию для процедур измерения выбросов и устойчивости, определенных в серии документов SAE J1752.

SAE J1752/1-2006 История

  • 2021 SAE J1752/1-2021 Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем. Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем. Общие сведения и определения.
  • 2016 SAE J1752/1-2016 Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем. Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем. Общие сведения и определения.
  • 2006 SAE J1752/1-2006 Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем. Процедуры измерения ЭМС интегральных схем. Общие положения и определения.
  • 1997 SAE J1752/1-1997 Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем. Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем. Общие сведения и определения.

SAE J1752/1-2006 - Все части

SAE J1752-1-2021 Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем. Процедуры измерения ЭМС интегральных схем. Общие положения и определения. SAE J1752-2-2016 Измерение излучаемых излучений интегральных схем — метод сканирования поверхности (метод петлевого зонда), от 10 МГц до 3 ГГц SAE J1752-3-2017 Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем. Процедуры измерения ЭМС интегральных схем. Общие положения и определения. SAE J1752/1-2021 Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем. Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем. Общие сведения и определения. SAE J1752/2-2016 Измерение излучений интегральных схем — метод поверхностного сканирования (метод петлевого зонда) от 10 МГц до 3 ГГц SAE J1752/3-2017 Измерение излучаемого излучения интегральных схем — метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)



© 2023. Все права защищены.