SAE AS6171/2A-2017 Методы обнаружения подозрительных/поддельных деталей EEE с помощью внешнего визуального осмотра@, маркировки и повторной обработки@, а также методов испытаний для анализа текстуры поверхности. - Стандарты и спецификации PDF

SAE AS6171/2A-2017
Методы обнаружения подозрительных/поддельных деталей EEE с помощью внешнего визуального осмотра@, маркировки и повторной обработки@, а также методов испытаний для анализа текстуры поверхности.

Стандартный №
SAE AS6171/2A-2017
Дата публикации
2017
Разместил
SAE - SAE International
Последняя версия
SAE AS6171/2A-2017
сфера применения
В этом документе описаны требования к следующим методам испытаний для обнаружения подделок электронных компонентов. Метод A: Общий EVI@, выбор образцов@ и метод обработки B: Подробный EVI@, включая измерение веса детали. Метод C: Тестирование на перемаркировку. Метод D: Тестирование на метод восстановления поверхности. E: Метод измерения размеров детали F: Анализ текстуры поверхности с использованием SEM Область применения настоящего документа сосредоточена на электронных компонентах с выводами@ микросхемах@ многочиповых модулях (MCM)@ и гибридах. Другие компоненты EEE могут потребовать оценок, не указанных в этой процедуре. Там, где это применимо, этот документ можно использовать в качестве руководства. Для тщательной оценки этих дополнительных типов деталей необходимо будет разработать и задокументировать дополнительные проверки или критерии. Если в контракте упоминается AS6171/2, также применяется базовый документ@ Общие требования AS6171. Цель Настоящий стандарт устанавливает требования к процессу проверки@ документированию результатов@ квалификации персонала@ и используемому инспекционному оборудованию. В нем также описаны методы обнаружения подозрительных контрафактных деталей обученным инспектором.

SAE AS6171/2A-2017 История

  • 2017 SAE AS6171/2A-2017 Методы обнаружения подозрительных/поддельных деталей EEE с помощью внешнего визуального осмотра@, маркировки и повторной обработки@, а также методов испытаний для анализа текстуры поверхности.

SAE AS6171/2A-2017 - Все части

SAE AS6171-2018 Стандарт методов испытаний; Общие требования@ Подозрительные/поддельные@ Электрические@ Электронные@ и электромеханические детали SAE AS6171/1-2016 Метод оценки теста на подозрение/подделку SAE AS6171/10-2022 Методы обнаружения подозрительных/поддельных деталей EEE с помощью методов термогравиметрического анализа (ТГА) SAE AS6171/11-2016 Методы обнаружения подозрительных/поддельных деталей EEE с помощью методов испытаний на восстановление конструкции SAE AS6171/2-2016 Методы обнаружения подозрительных/поддельных деталей EEE с помощью внешнего визуального осмотра@, маркировки и повторной обработки@, а также методов испытаний для анализа текстуры поверхности. SAE AS6171/2A-2017 Методы обнаружения подозрительных/поддельных деталей EEE с помощью внешнего визуального осмотра@, маркировки и повторной обработки@, а также методов испытаний для анализа текстуры поверхности. SAE AS6171/3-2022 Методы обнаружения подозрительных/поддельных деталей EEE с помощью методов рентгенофлуоресцентного тестирования SAE AS6171/4-2016 Методы обнаружения подозрительных/поддельных деталей EEE с помощью методов физического анализа с декапсуляцией и декапсуляцией SAE AS6171/5-2022 Методы обнаружения подозрительных/контрафактных деталей EEE методами радиологических испытаний SAE AS6171/6-2016 Методы обнаружения подозрительных/поддельных деталей EEE с помощью методов акустической микроскопии (АМ) SAE AS6171/7-2022 Методы обнаружения подозрительных/поддельных деталей EEE методами электрических испытаний SAE AS6171/8-2022 Методы обнаружения подозрительных/поддельных деталей EEE с помощью методов рамановской спектроскопии SAE AS6171/9-2022 Методы обнаружения подозрительных/поддельных деталей EEE с помощью методов тестирования инфракрасной спектроскопии с преобразованием Фурье (FTIR)



© 2023. Все права защищены.