JY/T 0588-2020
Общие правила определения кристаллической и молекулярной структуры низкомолекулярных соединений методом рентгеновской дифракции монокристаллов (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- JY/T 0588-2020
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 2020
- Разместил
- Professional Standard - Education
- Последняя версия
- JY/T 0588-2020
- заменять
- JY/T 008-1996
- сфера применения
-
Развитие стандартной технологии и обновление ядра
Технические размеры Выпуск 1996 г. (JY/T008) Выпуск 2020 г. (JY/T0588) Тип прибора Четырехкружной монокристаллический дифрактометр Универсальный монокристаллический дифрактометр (включая 2D-детектор) Технология обнаружения Традиционный точечный детектор Площадный детектор CCD/CMOS/HPAD Степень автоматизации В основном ручные этапы работы Встроенный процесс управления с помощью программного обеспечения
Основные требования к конфигурации прибора
Основные компоненты современного монокристаллического рентгеновского дифрактометра включают в себя:
- Источник рентгеновского излучения: мишень из молибдена (λ=0,71073Å) или мишень из меди (λ=1,54178Å)
- Система измерения угла: геометрия Эйлера (φ/χ/ω) или геометрия Каппа (φ/κ/ω)
- Детектор: Динамический диапазон должен быть >105, а скорость считывания должна быть ≤0,1 с/кадр
Процесс анализа структуры кристалла
Типичные случаи применения
При определении определенного металлоорганического комплекса:
- При использовании низкотемпературной вспомогательной системы при 100 К значение R1 уменьшилось с 0,085 до 0,052
- Абсолютная конфигурация была подтверждена параметром Флэка (0,03(2))
- Точность определения конечной длины связи достигла ±0,005Å
Система индексов проверки качества
