Этот стандарт �� официальная итальянская версия европейского стандарта EN ISO 9220 (издание от октября 1994 г.). Стандарт определяет метод измерения локальной толщины металлических покрытий путем исследования поперечных сечений с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ). Это может' может использоваться для толщин до нескольких миллиметров, но обычно это' больше' Целесообразно использовать оптический микроскоп (см. UNI EN ISO 1463), если это позволяет соответствующий метод.
UNI EN ISO 9220:1998 История
2022UNI EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия - Измерение толщины покрытия - Метод сканирующей электронной микроскопии
1998UNI EN ISO 9220:1998 Металлические покрытия - Измерение толщины покрытия - Метод сканирующей электронной микроскопии