BS EN 60749-6:2017
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Хранение при высокой температуре.

Стандартный №

BS EN 60749-6:2017

Дата публикации

2017

Разместил

British Standards Institution (BSI)

Последняя версия

BS EN 60749-6:2017

---

сфера применения

Анализ основного содержания стандарта

IEC 60749-6:2017 определяет метод испытания на высокотемпературное хранение полупроводниковых приборов в условиях отсутствия электрического напряжения, который в основном используется для оценки механизма отказа, активируемого термическим путем, твердотельных электронных приборов в условиях хранения. По сравнению с изданием 2002 года основные обновления включают:

Технические элементы	Издание 2002 г.	Издание 2017 г.
Уровень температуры испытания	Уровень 4 (125–300 °C)	Расширение уровня 6 (условия AF)
Проверка сохранения данных	Явно не требуется	Обязательная проверка режима энергонезависимой памяти
Модель ускорения	Не упоминается	Связано с МЭК 60749-43Уравнение Аррениуса

---

Ключевые требования к испытаниям

1. Выбор условий испытаний

Стандарт предусматривает шесть температурных условий (AF), из которых условие B (150 °C) является общепринятым эталоном сертификационного испытания.

• Максимальная температура хранения устройства Tstg,max
• Температура стеклования упаковочного материала
• Температура плавления припоя (например, приблизительно 183 °C для припоя, содержащего свинец)
• Характеристики сохранения заряда энергонезависимой памяти

2. Критерии отказа

Следующие ситуации считаются отказами:

1. Параметры превышают значения, указанные в закупочной документации
2. Функциональный тест не пройден
3. Энергонезависимая память Не пройдена проверка шаблона данных
4. Механические повреждения корпуса (трещины и т. п.)

---

Ключевые моменты технической реализации

Случай: Тест флэш-памяти

64 Мб флэш-памяти NOR тестируется в условиях C (175 °C): предварительно записанная с тестовым шаблоном шахматной доски Промежуточная проверка выполняется каждые 250 часов После общей продолжительности теста 1000 часов сохранение данных должно быть ≥ 99,99% После 1000 часов скорость сохранения данных должна быть ≥ 99,99%. Окончательное тестирование должно быть завершено в течение 168 часов после извлечения устройства из высокотемпературной среды. Любая задержка может сопровождаться повторным тестированием в течение эквивалентного периода. Промежуточные точки измерения включают 24 часа, 48 часов, 96 часов, 168 часов и 500 часов.

---

Рекомендации по стандартному применению

1. Квалификация нового устройства: рекомендуется использовать базовую комбинацию «Условие B + 1000 ч».
2. Ускоренное испытание на долговечность: в сочетании с IEC 60749-43 для расчета энергии активации.
3. Оценка сохранения данных: необходимо включить испытание на запас.
4. Проверка упаковки: одновременно следует провести испытание на чувствительность к влаге по IEC 60749-20.

Тип испытания	Рекомендуемая температура	Типичная продолжительность
Общая квалификация	150°C (Условие B)	1000 ч
Быстрая оценка	175°C (Условие C)	500 ч
Проверка предела	200°C (Условие D)	250 ч

BS EN 60749-6:2017 История

• 2018 BS EN IEC 60749-12:2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Вибрация, переменная частота
• 2002 BS EN 60749-12:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Вибрация переменной частоты.
• 1999 BS EN 60749:1999 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний
• 0000 BS 6493-3:1986

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации