IEC 60747-10:1991
Полупроводниковые приборы; часть 10: общая спецификация для дискретных устройств и интегральных схем

Стандартный №

IEC 60747-10:1991

Дата публикации

1991

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

быть заменен

быть заменен

IEC 60747-10:1991/AMD1:1995

Последняя версия

IEC 60747-10:1991/AMD3:1996

заменять

IEC 60747-10:1984

сфера применения

Определяет общие процедуры оценки качества, используемые в системе IECQ, и дает общие правила для: 　——методов измерения электрических характеристик; 　——климатические и механические испытания; 　——испытания на выносливость.

IEC 60747-10:1991 История

• 1996 IEC 60747-10:1991/AMD3:1996 Поправка 3. Полупроводниковые приборы. Часть 10. Общая спецификация для дискретных устройств и интегральных схем.
• 1996 IEC 60747-10:1991/AMD2:1996 Поправка № 2 к IEC 747-10.
• 1995 IEC 60747-10:1991/AMD1:1995 Поправка 1. Полупроводниковые приборы. Часть 10. Общая спецификация для дискретных устройств и интегральных схем.
• 1991 IEC 60747-10:1991 Полупроводниковые приборы; часть 10: общая спецификация для дискретных устройств и интегральных схем
• 1984 IEC 60747-10:1984 Полупроводниковые приборы. Часть 10. Общие спецификации для дискретных устройств и интегральных схем.

стандарты и спецификации