IEC 60747-10:1991
Полупроводниковые приборы; часть 10: общая спецификация для дискретных устройств и интегральных схем
- Стандартный №
- IEC 60747-10:1991
- Дата публикации
- 1991
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- состояние
- быть заменен
- IEC 60747-10/AMD1:1995
- Последняя версия
- IEC 60747-10:1991/AMD3:1996
- заменять
- IEC 60747-10:1984
- сфера применения
- Определяет общие процедуры оценки качества, используемые в системе IECQ, и дает общие правила для: ——методов измерения электрических характеристик; ——климатические и механические испытания; ——испытания на выносливость.
IEC 60747-10:1991 История
- 1996 IEC 60747-10:1991/AMD3:1996 Поправка 3. Полупроводниковые приборы. Часть 10. Общая спецификация для дискретных устройств и интегральных схем.
- 1995 IEC 60747-10/AMD1:1995 Полупроводниковые приборы. Часть 10. Общая спецификация дискретных устройств и интегральных схем; Поправка 1
- 1991 IEC 60747-10:1991 Полупроводниковые приборы; часть 10: общая спецификация для дискретных устройств и интегральных схем
