DANSK DS/EN 60749-6:2002
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.

Стандартный №

DANSK DS/EN 60749-6:2002

Дата публикации

2002

Разместил

Danish Standards Foundation

Последняя версия

DANSK DS/EN 60749-6:2002

сфера применения

Целью данной части IEC 60749 является испытание и определение воздействия на все полупроводниковые электронные устройства хранения при повышенной температуре без приложения электрического напряжения. Этот тест считается неразрушающим, но его предпочтительно использовать для квалификации устройства. Если такие устройства используются для доставки, необходимо оценить последствия этого ускоренного стресс-теста.

DANSK DS/EN 60749-6:2002 История

• 2002 DANSK DS/EN 60749-6:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации