Целью данной части IEC 60749 является испытание и определение воздействия на все полупроводниковые электронные устройства хранения при повышенной температуре без приложения электрического напряжения. Этот тест считается неразрушающим, но его предпочтительно использовать для квалификации устройства. Если такие устройства будут использоваться для доставки, необходимо будет оценить последствия этого ускоренного стресс-теста. В целом, это испытание на хранение при высокой температуре соответствует IEC 60068-2-48, но из-за особых требований к полупроводникам применяются положения настоящего стандарта.
GSO IEC 60749-6:2014 История
2014GSO IEC 60749-6:2014 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.