С быстрым развитием нанотехнологий нанесение нанопленок на стеклянные подложки становится все более распространенным. Для обеспечения точности и согласованности измерений толщины пленки был разработан стандарт GB/T 33826-2017 «Метод измерения толщины нанопленок на стеклянных подложках с помощью щупового профилометра». Этот стандарт был предложен Китайской академией наук и разработан несколькими авторитетными организациями, включая Китайский научно-исследовательский институт строительных материалов и Zhangzhou Kibing Glass Co., Ltd.
Будучи высокоточным инструментом для измерения поверхности, щуповый профилометр постепенно стал отраслевым стандартом для нанесения нанопленок. Разработка этого стандарта не только заполняет пробел в соответствующей области внутри страны, но и обеспечивает единую техническую базу для международного технического обмена.
| Стандартные размеры | Метод профилометра со щупом | Другие методы (например, оптическое измерение) |
|---|---|---|
| Диапазон измерений | Толщина пленки: $10~\mathrm{нм} \sim 1000~\mathrm{нм}$ Вертикальное разрешение: $0.1~\mathrm{нм} \sim 0.6~\mathrm{нм}$ | Ограничено пределом оптической дифракции, обычно применимо к более толстым пленкам ($\geq 100~\mathrm{нм}$) |
| Требования к оборудованию | Профилометр со щупом, стандартные образцы, калибровочные инструменты | Оптический микроскоп, интерферометр и т. д. |
| Применимые сценарии | Стеклянные подложки и аналогичные твердые плоские подложки | Прозрачные или полупрозрачные пленки |
Рекомендации по внедрению:

© 2025. Все права защищены.