ADOPTED_FROM:CEN/TR 10354:2011 В этом техническом отчете описывается рентгенофлуоресцентный (XRF) спектрометрический метод определения содержания Si и Al в ферросиликоновых материалах. Метод применим для:
——содержания Si от 40 до 90 %;
——Содержание Al от 0,5 до 6 %. В Техническом отчете указаны общие требования к проведению анализа методом рентгенофлуоресцентной спектрометрии и подготовке исследуемой пробы. Коррекция спектрометрических измерений из-за спектральных помех на используемых аналитических линиях имеет важное значение. Настоящий технический отчет действителен для аналитических линий:
——Si Kα 7.126 (для содержания элементов от 45 до 90 %);
——Al Kα 8.339 (при содержании элементов от 0,8 до 6 %);
——Fe Kα 1,937 (при содержании элементов от 10 до 58 %). П р и м е ч а н и е — Для целей сопоставления матриц железо включается в готовящуюся аналитическую программу. В условиях, описанных выше, нет необходимости рассчитывать спектральные помехи.
SN-CEN/TR 10354:2011 История
2011SN-CEN/TR 10354:2011 Химический анализ черных металлов. Анализ ферросилиция. Определение Si и Al методом рентгенофлуоресцентной спектрометрии.