В этом техническом отчете описан рентгенофлуоресцентный (РФА) спектрометрический метод определения содержания Si и Al в ферросиликоновых материалах. Метод применим для: содержания Si от 40% до 90%; Содержание Al от 0,5% до 6%. Коррекция спектрометрических измерений из-за спектральных помех на используемых аналитических линиях имеет важное значение. Настоящий технический отчет действителен для аналитических линий: Si K 7.126 (для содержания элементов от 45 % до 90 %); Al K 8.339 (при содержании элементов от 0,8 % до 6 %); Fe K 37 (при содержании элементов от 10 % до 58 %). П р и м е ч а н и е — Для целей сопоставления матриц железо включается в готовящуюся аналитическую программу. В условиях, описанных выше, рассчитывать спектральные помехи не требуется.
PD CEN/TR 10354:2011 История
0000 PD CEN/TR 10354:2011(2012)
2011PD CEN/TR 10354:2011 Химический анализ черных металлов. Анализ ферросилиция. Определение Si и Al методом рентгенофлуоресцентной спектрометрии.