T/ZAQ 10113-2022
Оборудование для испытания полупроводниковых приборов на срок прерывистой работы (Англоязычная версия)

Стандартный №: T/ZAQ 10113-2022
язык: Китайский, Доступно на английском
Дата публикации: 2022
Разместил: Group Standards of the People's Republic of China
Последняя версия: T/ZAQ 10113-2022

сфера применения: В настоящем документе указаны термины и определения, основные параметры, технические требования, методы испытаний, правила проверки, знаки, инструкции по применению, упаковке, транспортированию и хранению оборудования для испытания полупроводниковых приборов прерывистого режима работы (далее - оборудование для испытания ресурса).

T/ZAQ 10113-2022 История

2022 T/ZAQ 10113-2022 Оборудование для испытания полупроводниковых приборов на срок прерывистой работы

Специальные темы по стандартам и нормам

Технология испытаний полупроводникового оборудования Механически обработанные детали для промышленности полупроводникового оборудования Срок службы механического оборудования Производство силового полупроводникового оборудования Полупроводниковая жизнь

стандарты и спецификации

IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах BS EN 62374-1:2010(2011 Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев GB 50467-2008 Правила проектирования и приемки работ по монтажу оборудования для производства микроэлектроники ANSI/EIA 4900:2002 Использование полупроводниковых приборов за пределами установленных производителем температурных диапазонов JEDEC EIA-323-1966 Среда для испытаний на срок службы полупроводниковых приборов с воздушным конвекционным охлаждением GJB 128B-2021 Методы испытаний полупроводниковых дискретных устройств GOST R 71070-2023 Приборы электронно-полупроводниковые. Термины и определения DIN EN 60749-8:2003 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 8. Герметизация (IEC 60749-8:2002 + Исправление 1:2003 + Исправление 2:2003 DIN EN 60749-13 E:2017-07 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 13. Соляная атмосфера GJB 7361-2011 Методы измерения параметров военных детекторов ультрафиолета

© 2025. Все права защищены.