ASTM E2444-05
Терминология, относящаяся к измерениям, проводимым на тонких отражающих пленках

Стандартный №

ASTM E2444-05

Дата публикации

2005

Разместил

American Society for Testing and Materials (ASTM)

состояние

быть заменен

быть заменен

ASTM E2444-05e1

Последняя версия

ASTM E2444-11(2018)

сфера применения

1.1 Настоящий стандарт состоит из терминов и определений, относящихся к измерениям, проводимым на тонких отражающих пленках, например, используемых в материалах микроэлектромеханических систем (МЭМС).В частности, эти термины относятся к стандартам в разделе , которые были разработаны Комитетом E08 по К настоящему стандарту применима терминология E 1823, касающаяся испытаний на усталость и разрушение.

1.2 Термины перечислены в алфавитном порядке.

ASTM E2444-05 История

• 2018 ASTM E2444-11(2018) Стандартная терминология, относящаяся к измерениям, проводимым на тонких отражающих пленках
• 2011 ASTM E2444-11e1 Терминология, относящаяся к измерениям, проводимым на тонких отражающих пленках
• 2011 ASTM E2444-11 Терминология, относящаяся к измерениям, проводимым на тонких отражающих пленках
• 2005 ASTM E2444-05e1 Терминология, относящаяся к измерениям, проводимым на тонких отражающих пленках
• 2005 ASTM E2444-05 Терминология, относящаяся к измерениям, проводимым на тонких отражающих пленках

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации