Представленный стандарт определяет методику для испытания напряжения в металлизации полупроводниковых устройств на наличие пустот. Он предназначен для оценки качества процесса производства и надежности элементов, содержащих медь в качестве материала металлизации. Методика может использоваться как при разработке новых технологий, так и при контроле производимой продукции. Стандарт ориентирован на специалистов в области полупроводниковых устройств и материаловедения.
*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.
UNE-EN 62418:2010 История
2010UNE-EN 62418:2010 Полупроводниковые приборы. Испытание на пустоту при металлизации (одобрено AENOR в октябре 2010 г.)