SJ/T 12198-2026
Общие технические требования к полупроводниковым термоэлектрическим устройствам генерации (Англоязычная версия)

Стандартный №

SJ/T 12198-2026

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2026

Разместил

Professional Standard - Electron

состояние

 2026-12-01

Последняя версия

SJ/T 12198-2026

сфера применения

Настоящий документ устанавливает правила обозначения моделей полупроводниковых термоэлектрических элементов питания, технические требования, методы и правила испытаний, а также правила маркировки, упаковки, транспортировки и хранения. Документ распространяется на проектирование, производство и контроль качества полупроводниковых термоэлектрических элементов питания, предназначенных для работы в диапазоне температур от (–55 до +300) °C. Другие типы термоэлектрических элементов питания применяются с учетом положений настоящего документа по аналогии.

SJ/T 12198-2026 Ссылочный документ

• GB/T 1019  Общие требования к упаковке бытовых и аналогичных электроприборов
• GB/T 191 Упаковка и хранение графические символы маркировка
• GB/T 2423.1-2008 Экологические испытания электрических и электронных изделий. Часть 2. Методы испытаний. Испытания A: Холод.
• GB/T 2423.2-2008 Экологические испытания электрических и электронных изделий. Часть 2. Методы испытаний. Испытания B: Сухой жар.
• GB/T 2423.22-2012 Экологические испытания. Часть 2: Методы испытаний. Испытание N: Изменение температуры.
• GB/T 2423.34-2012 Экологические испытания. Часть 2. Методы испытаний. Испытание Z/AD: Комплексное циклическое испытание температуры/влажности.
• GB/T 2423.5-2019 Экологические испытания. Часть 2. Методы испытаний. Испытание Ea и рекомендации: шок.
• GB/T 2423.63-2019 Экологические испытания. Часть 2. Методы испытаний. Испытание: комбинированная температура (холод и тепло)/низкое давление воздуха/вибрация (смешанный режим)
• GB/T 2828.1-2012 Процедура проверки путем подсчета выборки, часть 1: План выборочного контроля по партиям, полученный по пределу приемочного качества (AQL)
• GB/T 4937.12-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 12. Вибрация переменной частоты.
• GB/T 4937.14-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 14. Надежность выводов (целостность выводов).
• GB/T 4937.3-2012 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр.

SJ/T 12198-2026 История

• 2026 SJ/T 12198-2026 Общие технические требования к полупроводниковым термоэлектрическим устройствам генерации

стандарты и спецификации