сканирующий электронный микроскоп
сканирующий электронный микроскоп, Всего: 7 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к сканирующий электронный микроскоп, являются: Линейные и угловые измерения, Оптическое оборудование.
Semiconductor Equipment and Materials International (SEMI), сканирующий электронный микроскоп
- SEMI F73-0309-2009 МЕТОД ИСПЫТАНИЙ ДЛЯ ОЦЕНКИ СОСТОЯНИЯ СМАЧИВАЕМОЙ ПОВЕРХНОСТИ КОМПОНЕНТОВ ИЗ НЕРЖАВЕЮЩЕЙ СТАЛИ С СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ (СЭМ)
American Society for Testing and Materials (ASTM), сканирующий электронный микроскоп
- ASTM F1372-93(2020) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM F1372-93(1999) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
British Standards Institution (BSI), сканирующий электронный микроскоп
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
- 18/30344520 DC BS ISO 21466. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
International Organization for Standardization (ISO), сканирующий электронный микроскоп
- ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
German Institute for Standardization, сканирующий электронный микроскоп
- DIN ISO 15632:2022 Микролучевой анализ. Отдельные параметры рабочих характеристик прибора для спецификации и проверки энергодисперсионных рентгеновских спектрометров (EDS) для использования со сканирующим электронным микроскопом (SEM) или электронно-зондовым микроанализатором (EPMA) (ISO 15632:2...