Какой элемент анализируется с помощью энергетического спектра растрового электронного микроскопа
Какой элемент анализируется с помощью энергетического спектра растрового электронного микроскопа, Всего: 20 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Какой элемент анализируется с помощью энергетического спектра растрового электронного микроскопа, являются: Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Защита от преступности, Словари, Образование.
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Какой элемент анализируется с помощью энергетического спектра растрового электронного микроскопа
- GB/T 35099-2018 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионной рентгеновской спектрометрией. Морфология и элементный анализ одиночных мелких частиц в окружающем воздухе.
Professional Standard - Public Safety Standards, Какой элемент анализируется с помощью энергетического спектра растрового электронного микроскопа
- GA/T 1418-2017 Исследование элементного состава судебно-медицинской экспертизы стеклянных доказательств, сканирующая электронная микроскопия/энергетическая спектроскопия
- GA/T 1521-2018 Судебная медицина Исследование элементного состава пластмасс Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1519-2018 Судмедэкспертиза Проверка элементного состава тонера Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1520-2018 Судебно-медицинская экспертиза черного пороха, проверка элементного состава пиротехнического порошка, сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергетическая спектрометрия
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Какой элемент анализируется с помощью энергетического спектра растрового электронного микроскопа
- GB/T 17362-1998 Неразрушающий метод рентгеновского ЭДС анализа с помощью СЭМ для золотых ювелирных изделий
- GB/T 17362-2008 Метод рентгеноэнергетического спектрального анализа золотых изделий на сканирующем электронном микроскопе
- GB/T 17359-1998 Общие характеристики количественного анализа рентгеновской ЭДС для EPMA и SEM
- GB/T 25189-2010 Микролучевой анализ. Метод определения параметров количественного анализа SEM-EDS.
Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Какой элемент анализируется с помощью энергетического спектра растрового электронного микроскопа
- DB35/T 110-2000 Электронный зонд и сканирующий электронный микроскоп. Метод рентгеновского энергетического спектрального анализа для обнаружения красочных вещественных доказательств.
International Organization for Standardization (ISO), Какой элемент анализируется с помощью энергетического спектра растрового электронного микроскопа
- ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Какой элемент анализируется с помощью энергетического спектра растрового электронного микроскопа
- GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
GSO, Какой элемент анализируется с помощью энергетического спектра растрового электронного микроскопа
- BH GSO ISO 22493:2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- GSO ISO 24639:2024 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии потерь энергии электронов.
- GSO ISO 22493:2015 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
SCC, Какой элемент анализируется с помощью энергетического спектра растрового электронного микроскопа
- BS ISO 22493:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Какой элемент анализируется с помощью энергетического спектра растрового электронного микроскопа
Professional Standard - Education, Какой элемент анализируется с помощью энергетического спектра растрового электронного микроскопа
- JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии