Требования современной электронной техники обусловили потребность в методе испытания экранирующего затухания СВЧ-компонентов во всем их диапазоне частот. Существуют удобные методы испытаний для низких частот и компонентов правильной формы. Эти методы испытаний описаны в соответствующих спецификациях продукции IEC (например, IEC 62153-4-3). Для более высоких частот и компонентов неправильной формы стал необходим новый метод испытаний, и такой метод испытаний описан в настоящем международном стандарте. В этом международном стандарте описывается измерение затухания экранирования с помощью метода испытаний в реверберационной камере, иногда называемого модовой камерой с перемешиванием, который подходит практически для любого типа микроволновых компонентов и не имеет теоретического верхнего предела частоты. Он ограничен только низкими частотами из-за размера испытательного оборудования, которое зависит от частоты и является лишь одним из нескольких методов измерения затухания экранирования. Для целей настоящего стандарта примерами СВЧ-компонентов являются волноводы, фазовращатели, диплексоры/мультиплексоры, делители/сумматоры мощности и т. д.
IEC 61726:2015 Ссылочный документ
IEC 61000-4-21:2011 Электромагнитная совместимость (ЭМС). Часть 4-21. Методы испытаний и измерений. Методы испытаний в реверберационной камере
IEC 61196-1:2005 Коаксиальные кабели связи. Часть 1. Общие спецификации. Общие положения, определения и требования.
IEC 61726:2015 История
2022IEC 61726:2022 Кабельные сборки, кабели, разъемы и пассивные СВЧ-компоненты. Измерение затухания экранирования методом реверберационной камеры.
2015IEC 61726:2015 Кабельные сборки, кабели, разъемы и пассивные СВЧ-компоненты. Измерение затухания экранирования методом реверберационной камеры.
1999IEC 61726:1999 Кабельные сборки, кабели, разъемы и пассивные СВЧ-компоненты. Измерение затухания экранирования методом реверберационной камеры.