«Термонапыленные слои могут быть металлическими или керамическими. Контроль их качества возможен лишь в ограниченной степени методами неразрушающего контроля. Однако при металлографических исследованиях определяются характерные особенности напыленного слоя, такие как толщина, микроструктура (структура, пористость) , связь с основным материалом и твердость могут быть достоверно оценены. Эти В основном микроскопические испытания, включая измерения твердости, проводятся с помощью микроскопов отраженного света на образцах, которые были специально отшлифованы, отполированы и, при необходимости, протравлены для развития структуры. Рабочие документы, описанные на помольное производство, см.
DVS 2310-1-1999 Ссылочный документ
DIN EN 582:1994 Термическое напыление; определение прочности сцепления на разрыв; Немецкая версия EN 582:1993.
DIN EN ISO 6507-1:1998 Металлические материалы. Испытание на твердость по Виккерсу. Часть 1. Метод испытания.
DIN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988); Немецкая версия EN ISO 9220:1994.
DVS 2301-1987 Процессы термического напыления металлических и неметаллических материалов
DVS 2303-1-1991 Неразрушающий контроль термонапыленных покрытий, измерение толщины слоя.
DVS 2303-2-1995 Неразрушающий контроль термонапыленных покрытий – выявление внутренних особенностей
DVS 2303-3 Технология контроля с нулевым дефектом для измерения шероховатости поверхности термического напыления*， 2016-03-01 Обновление
EN ISO 3882:1994 Металлические и другие неорганические покрытия. Обзор методов измерения толщины (ISO 3882: 1986)
DVS 2310-1-1999 История
2013DVS 2310-1-2013 Инструкции по подготовке секций и оценке покрытий, нанесенных термическим напылением
2007DVS 2310-1-2007 Инструкции по подготовке секций и оценке покрытий, нанесенных термическим напылением
1999DVS 2310-1-1999 Инструкции по подготовке секций и оценке покрытий, нанесенных термическим напылением
1984DVS 2310-1-1984 Инструкция по изготовлению шлифов и оценке термонапыленных слоев под светооптическим микроскопом