IEC 61189-2-721:2015
Методы испытаний электрических материалов, печатных плат и других соединительных структур и сборок. Часть 2-721. Методы испытаний материалов для соединительных структур. Измерение относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла потерь для пластин с медным покрытием.
- Стандартный №
- IEC 61189-2-721:2015
- Дата публикации
- 2015
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Последняя версия
- IEC 61189-2-721:2015
- заменять
- IEC 91/1246/FDIS:2015
- сфера применения
- В этой части стандарта IEC 61189 описывается способ определения относительной диэлектрической проницаемости (??) и тангенса угла потерь (tan??) (также называемых диэлектрической проницаемостью (Dk) и коэффициентом рассеяния (Df)) ламинатов с медным покрытием на микроволновых частотах (от 1 от 1 ГГц до 20 ГГц) с использованием разделенного постдиэлектрического резонатора (SPDR). Эта часть IEC 61189 применима к ламинатам с медным покрытием и диэлектрическим основным материалам.
IEC 61189-2-721:2015 История
- 2015 IEC 61189-2-721:2015 Методы испытаний электрических материалов, печатных плат и других соединительных структур и сборок. Часть 2-721. Методы испытаний материалов для соединительных структур. Измерение относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла потерь для пластин с медным покрытием.
