IEC 62014-5:2015 Качество интеллектуальной собственности в области электроники и программного обеспечения, используемой в конструкциях систем и систем на кристалле (SoC) - Стандарты и спецификации PDF

IEC 62014-5:2015
Качество интеллектуальной собственности в области электроники и программного обеспечения, используемой в конструкциях систем и систем на кристалле (SoC)

Стандартный №
IEC 62014-5:2015
Дата публикации
2015
Разместил
International Electrotechnical Commission (IEC)
Последняя версия
IEC 62014-5:2015
заменять
IEC 91/1208/FDIS:2014
 

сфера применения
Данная спецификация определяет стандартный формат XML для представления информации о качестве интеллектуальной собственности (ИС) электронных разработок на основе информационной модели для измерения качества ИС. Он включает схему и термины, относящиеся к измерению качества ИС, включая программное обеспечение, которое работает в системе. Схема и информационная модель могут быть ориентированы на представление определенных категорий, представляющих интерес для пользователей IP. В контексте настоящего документа термин «ИС» используется для обозначения интеллектуальной собственности в области электронных разработок. Интеллектуальная собственность электронного дизайна — это термин, используемый в сообществе электронного дизайна для обозначения многократно используемой коллекции проектных спецификаций, которые представляют поведение@свойства@ и/или представление проекта на различных носителях. Цель Целью настоящего стандарта является предоставление унифицированного представления о мерах качества ИС, чтобы облегчить использование и интеграцию этой ИС, используемой при проектировании электронных систем. Это позволит постоянно совершенствовать IP, используемые для проектирования и проверки систем, предоставляя механизм качественного сравнения таких IP. Определенные стандартные меры качества IP и формат обмена характеристиками могут быть включены в различные инструменты автоматизации электронного проектирования (EDA).

IEC 62014-5:2015 История

  • 2015 IEC 62014-5:2015 Качество интеллектуальной собственности в области электроники и программного обеспечения, используемой в конструкциях систем и систем на кристалле (SoC)
Качество интеллектуальной собственности в области электроники и программного обеспечения, используемой в конструкциях систем и систем на кристалле (SoC)

стандарты и спецификации

ANSI/IEEE 1734:2011 Стандарт качества интеллектуальной собственности в области электроники и программного обеспечения, используемой в конструкциях систем и систем на кристалле (SoC) IEEE Std 1734-2011 Стандарт IEEE качества интеллектуальной собственности в области электроники и программного обеспечения, используемой в конструкциях систем и систем на кристалле (SoC) IEC 62014-5*IEEE Std 1734:2011 – Качество интеллектуальной собственности в области электроники и программного обеспечения, используемой в конструкциях систем и систем на кристалле (SoC) IEC 62014-5 IEEE Std 1734-2011 Международный стандарт IEEE/IEC – Качество интеллектуальной собственности в области электроники и программного обеспечения, используемой в конструкциях систем и систем на кристалле (SoC) BS IEC 62014-5:2015 Качество интеллектуальной собственности в области электроники и программного обеспечения, используемой в конструкциях систем и систем на кристалле (SoC) IEEE 1734-2011 Стандарт качества интеллектуальной собственности в области электроники и программного обеспечения, используемой в конструкциях систем и систем на кристалле (SoC) IEEE/IEC 62014-5-2015 Международный стандарт IEEE/IEC – Качество интеллектуальной собственности в области электроники и программного обеспечения, используемой в конструкциях систем и систем на кристалле (SoC) SJ/Z 11359-2006 Таксономия функциональной верификации для разработки и интеграции IP-ядра интегральной схемы SYS ON CHIP-2006 Система-на-кристалле: электроника нового поколения



© 2025. Все права защищены.