ASTM E1125-16 Стандартный метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора с использованием табличного спектра

Стандартный №: ASTM E1125-16
Дата публикации: 2016
Разместил: American Society for Testing and Materials (ASTM)
состояние: быть заменен
быть заменен: ASTM E1125-16(2020)
Последняя версия: ASTM E1125-16(2020)

сфера применения: 5.1.Электрическая мощность фотоэлектрического устройства зависит от спектрального состава источника освещения, его интенсивности и температуры устройства. Чтобы провести стандартизированные и точные измерения характеристик фотоэлектрических устройств при различных источниках света, когда интенсивность измеряется с помощью калиброванной эталонной ячейки, необходимо учитывать ошибку тока короткого замыкания, которая возникает, если относительная квантовая эффективность эталонной ячейки не идентична квантовой эффективности тестируемого устройства. Аналогичная ошибка возникает, если спектральное распределение освещенности тестового источника света не идентично желаемому эталонному спектральному распределению освещенности. Эти ошибки учитываются параметром спектрального несоответствия (описанным в методе испытаний E973), который является количественной мерой погрешности измерения тока короткого замыкания. Целью этого метода испытаний является предоставление признанной процедуры калибровки, определения характеристик и представления данных калибровки для первичных фотоэлектрических эталонных элементов с использованием табличного эталонного спектра. 5.2. Калибровка эталонной ячейки зависит от конкретного спектрального распределения освещенности. Пользователь несет ответственность за определение применимого распределения излучения, например Таблицы G173. Этот метод испытаний позволяет проводить калибровку по любому табличному спектру. 5.2.1 В таблицах G173 не приводятся данные о спектральной освещенности для длин волн длиннее 4 мкм, однако пиргелиометры (см. 6.1) обычно имеют отклик в диапазоне 4 мкм 10 мкм. #x03bc;м регион. Чтобы уменьшить это несоответствие, спектры Таблицы G173 необходимо дополнить данными, представленными в Приложении А2. 5.3. Эталонную ячейку следует калибровать ежегодно или каждые шесть месяцев, если ячейка постоянно используется на открытом воздухе. 5.4. Рекомендуемые физические характеристики эталонных ячеек можно найти в Спецификации E1040. 5.5. Ожидается, что высококачественные кремниевые первичные эталонные ячейки будут стабильными устройствами по своей природе и, как таковые, могут считаться контрольными образцами. Таким образом, точки данных калибровочных значений (см. 9.3) можно контролировать с помощью методов контрольных карт в соответствии с Методикой E2554 и оценивать неопределенность результатов испытаний. Контрольные карты также можно дополнить точками данных предыдущих калибровок, чтобы обнаружить изменения в эталонной ячейке или процедурах калибровки. 1.1 Этот метод испытаний предназначен для калибровки и определения характеристик первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов по желаемому эталонному спектральному распределению освещенности, такому как таблицы G173. Рекомендуемые физические требования для этих эталонных ячеек описаны в Спецификации E1040. Эталонные элементы в основном используются для определения электрических характеристик фотоэлектрических устройств.

ASTM E1125-16 Ссылочный документ

ASTM E1021 Стандартные методы испытаний для измерения спектрального отклика фотоэлектрических элементов
ASTM E1040 Стандартные спецификации на физические характеристики наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора
ASTM E1143 Стандартный метод испытаний для определения линейности параметра фотоэлектрического устройства относительно испытательного параметра
ASTM E1362 Стандартный метод испытаний для калибровки фотоэлектрических вторичных эталонных ячеек без концентратора
ASTM E2554 Стандартная практика оценки и мониторинга неопределенности результатов испытаний метода испытаний с использованием методов контрольных диаграмм
ASTM E490 Таблицы спектральной солнечной радиации стандартной солнечной постоянной и нулевой воздушной массы
ASTM E772 Стандартная терминология, касающаяся преобразования солнечной энергии
ASTM E816 Стандартный метод испытаний для калибровки пиргелиометров путем сравнения с эталонными пиргелиометрами
ASTM E927 Стандартные спецификации для моделирования солнечной энергии для испытаний наземных фотоэлектрических систем
ASTM E948 Стандартный метод испытаний электрических характеристик фотоэлектрических элементов с использованием эталонных элементов под воздействием искусственного солнечного света
ASTM E973 Метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
ASTM G138 Стандартный метод испытаний для калибровки спектрорадиометра с использованием стандартного источника излучения
ASTM G173 Стандартные таблицы для эталонного солнечного спектрального излучения: прямое нормальное и полусферическое на поверхности, наклоненной на 37°.
ASTM G183 Стандартная практика полевого использования пиранометров, пиргелиометров и УФ-радиометров

ASTM E1125-16 История

2020 ASTM E1125-16(2020) Стандартный метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора с использованием табличного спектра
2016 ASTM E1125-16 Стандартный метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора с использованием табличного спектра
2010 ASTM E1125-10(2015) Стандартный метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора с использованием табличного спектра
2010 ASTM E1125-10 Стандартный метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора с использованием табличного спектра
2005 ASTM E1125-05 Стандартный метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора с использованием табличного спектра
1999 ASTM E1125-99 Стандартный метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора с использованием табличного спектра