SJ/T 2214-2015
Методы измерения полупроводниковых фотодиодов и фототранзисторов (Англоязычная версия)

Стандартный №

SJ/T 2214-2015

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2015

Разместил

Professional Standard - Electron

Последняя версия

SJ/T 2214-2015

заменять

SJ/T 2214.1-1982 SJ/T 2214.2-1982 SJ/T 2214.3-1982 SJ/T 2214.4-1982 SJ/T 2214.5-1982 SJ/T 2214.6-1982 SJ/T 2214.7-1982 SJ/T 2214.8-1982 SJ/T 2214.9-1982 SJ/T 2214.10-1982

сфера применения

Настоящий стандарт определяет методы контроля оптоэлектронных параметров полупроводниковых фотодиодов и фототранзисторов (далее «приборы»). Настоящий стандарт применим к проверке фотоэлектрических параметров полупроводниковых фотодиодов и фототранзисторов. Настоящий стандарт не распространяется на испытания PIN и лавинных фотодиодов.

SJ/T 2214-2015 История

• 2015 SJ/T 2214-2015 Методы измерения полупроводниковых фотодиодов и фототранзисторов
• 0000 SJ/T 2214.10-1982