SJ/T 2354-2015
Методы измерения фотодиодов PIN、APD (Англоязычная версия)

Стандартный №

SJ/T 2354-2015

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2015

Разместил

Professional Standard - Electron

Последняя версия

SJ/T 2354-2015

заменять

SJ/T 2354.1-1983 SJ/T 2354.2-1983 SJ/T 2354.3-1983 SJ/T 2354.4-1983 SJ/T 2354.5-1983 SJ/T 2354.6-1983 SJ/T 2354.7-1983 SJ/T 2354.8-1983 SJ/T 2354.9-1983 SJ/T 2354.10-1983 SJ/T 2354.11-1983 SJ/T 2354.12-1983 SJ/T 2354.13-1983 SJ/T 2354.14-1983

сфера применения

Настоящий стандарт определяет методы испытаний фотоэлектрических параметров ПИН- и лавинных фотодиодов (далее «диоды»).

SJ/T 2354-2015 История

• 2015 SJ/T 2354-2015 Методы измерения фотодиодов PIN、APD
• 0000 SJ/T 2354.14-1983