KS C IEC 60748-11-1:2004
Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 11. 1. Внутренний визуальный осмотр полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем.

Стандартный №

KS C IEC 60748-11-1:2004

Дата публикации

2004

Разместил

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

состояние

быть заменен

быть заменен

KS C IEC 60748-11-1-2004(2020)

Последняя версия

KS C IEC 60748-11-1-2004(2020)

сфера применения

Целью настоящего стандарта является определение внутренних материалов, компонентов и компонентов интегральных схем, чтобы они соответствовали требованиям применимого стандарта.

KS C IEC 60748-11-1:2004 История

• 0000 KS C IEC 60748-11-1-2004(2020)
• 2004 KS C IEC 60748-11-1:2004 Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 11. 1. Внутренний визуальный осмотр полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем.