KS C IEC 60747-5-3:2004 Полупроводниковые приборы-Дискретные устройства-Часть 5-3:оптоэлектронные устройства-Метод измерения - Стандарты и спецификации PDF

KS C IEC 60747-5-3:2004
Полупроводниковые приборы-Дискретные устройства-Часть 5-3:оптоэлектронные устройства-Метод измерения

Стандартный №
KS C IEC 60747-5-3:2004
Дата публикации
2004
Разместил
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
состояние
быть заменен
KS C IEC 60747-5-3:2020
Последняя версия
KS C IEC 60747-5-3:2020
сфера применения
Настоящий стандарт охватывает методы измерения фотоэлектрических устройств, не предназначенных для использования в волоконно-оптических системах или подсистемах.

KS C IEC 60747-5-3:2004 История

  • 2020 KS C IEC 60747-5-3:2020 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5-3. Оптоэлектронные устройства. Методы измерения.
  • 2004 KS C IEC 60747-5-3:2004 Полупроводниковые приборы-Дискретные устройства-Часть 5-3:оптоэлектронные устройства-Метод измерения



© 2023. Все права защищены.