Настоящий стандарт охватывает методы измерения фотоэлектрических устройств, не предназначенных для использования в волоконно-оптических системах или подсистемах.
KS C IEC 60747-5-3:2004 История
2020KS C IEC 60747-5-3:2020 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5-3. Оптоэлектронные устройства. Методы измерения.
2004KS C IEC 60747-5-3:2004 Полупроводниковые приборы-Дискретные устройства-Часть 5-3:оптоэлектронные устройства-Метод измерения