В этой части IEC 60444 описаны два метода определения паразитных (нежелательных) режимов пьезоэлектрических резонаторов. Он расширяет возможности и улучшает воспроизводимость и точность по сравнению с предыдущими методами.
NF C93-621-9*NF EN 60444-9:2014 История
2014NF C93-621-9*NF EN 60444-9:2014 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 9. Измерение побочных резонансов пьезоэлектрических кристаллов.