GB/T 18735-2014 (Англоязычная версия) Микролучевой анализ. Общее руководство по спецификации эталонных материалов нанометровой толщины для аналитического трансмиссионного электронного микроскопа (AEM/EDS). - Стандарты и спецификации PDF

GB/T 18735-2014
Микролучевой анализ. Общее руководство по спецификации эталонных материалов нанометровой толщины для аналитического трансмиссионного электронного микроскопа (AEM/EDS). (Англоязычная версия)

Стандартный №
GB/T 18735-2014
язык
Китайский, Доступно на английском
Дата публикации
2014
Разместил
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Последняя версия
GB/T 18735-2014
заменять
GB/T 18735-2002
сфера применения
Настоящий стандарт устанавливает технические требования к стандартному образцу нанометровой толщины, используемому при измерении масштабного коэффициента KAB с помощью аналитического электронного микроскопа (AEM/EDS), то есть просвечивающего электронного микроскопа или просвечивающего электронного микроскопа, оснащенного сканирующими принадлежностями и рентгеновской энергией. спектрометр (ЭДС). , условия обнаружения и методы обнаружения. Настоящий стандарт применяется к количественному анализу элементов в микрообластях тонких неорганических образцов с использованием аналитической электронной микроскопии (АЭМ/ЭДС). Этот стандарт не включает органические вещества и биологические стандарты.

GB/T 18735-2014 Ссылочный документ

  • GB/T 21636-2008  Микролучевой анализ.Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА).Словарь.
  • GB/T 4930-2008 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по спецификации сертифицированных эталонных материалов (CRM).

GB/T 18735-2014 История

  • 2014 GB/T 18735-2014 Микролучевой анализ. Общее руководство по спецификации эталонных материалов нанометровой толщины для аналитического трансмиссионного электронного микроскопа (AEM/EDS).
  • 2002 GB/T 18735-2002 Общие характеристики тонкого нанометрового стандартного образца для аналитической трансмиссионной электронной микроскопии (AEM/EDS)



© 2023. Все права защищены.