GOST R 8.842-2013
Государственная система обеспечения единства измерений. Приборы для измерения мощности излучения полупроводниковых эмиттерных диодов. Процедура проверки

Стандартный №

GOST R 8.842-2013

Дата публикации

2013

Разместил

RU-GOST R

Последняя версия

GOST R 8.842-2013

GOST R 8.842-2013 Ссылочный документ

• GOST 8.197-1986 Государственная система обеспечения единства измерений. Государственный специальный стандарт и график государственной поверки средств измерения спектральной плотности энергетической яркости оптического излучения в диапазоне длин волн 0,04-0,25 мкм
• GOST 8.552-2001 Государственная система обеспечения единства измерений. Схема государственной поверки средств измерения лучистого потока и освещенности в спектральном диапазоне от 0,03 до 0,40 мкм
• GOST R 8.736-2011 Государственная система обеспечения единства измерений. Множественные прямые измерения. Методы обработки результатов измерений. Основные принципы

GOST R 8.842-2013 История

• 2013 GOST R 8.842-2013 Государственная система обеспечения единства измерений. Приборы для измерения мощности излучения полупроводниковых эмиттерных диодов. Процедура проверки