Данный стандарт устанавливает методы расчета характеристик производительности инфракрасных приборов с низким спектральным разрешением, используемых в спутниковой метрологии. В документе приведены общие положения, определяющие основные параметры, влияющие на точность и надежность работы оборудования. Описаны основные принципы и этапы вычисления ключевых показателей, таких как чувствительность, разрешающая способность, диапазон измерений и другие важные характеристики. Также указаны требования к проведению испытаний и методы их анализа. Стандарт применяется при проектировании, тестировании и эксплуатации спутниковых систем, предназначенных для получения данных о состоянии атмосферы, поверхности Земли и других объектов, наблюдаемых с космоса.
*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.