KS D ISO 2178:2002
Измерение толщины покрытия－Немагнитные покрытия на магнитных подложках－Магнитный метод

Стандартный №

KS D ISO 2178:2002

Дата публикации

2002

Разместил

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

состояние

быть заменен

быть заменен

KS D ISO 2178-2002(2017)

Последняя версия

KS D ISO 2178-2002(2022)

сфера применения

Настоящий стандарт предназначен для неразрушающего измерения толщины немагнитных покрытий (включая полупрозрачные покрытия) на магнитных недрагоценных металлах.

KS D ISO 2178:2002 История

• 0000 KS D ISO 2178-2002(2022)
• 0000 KS D ISO 2178-2002(2017)
• 2002 KS D ISO 2178:2002 Измерение толщины покрытия－Немагнитные покрытия на магнитных подложках－Магнитный метод