GB/T 19501-2013
Микролучевой анализ. Общее руководство по анализу дифракции обратного рассеяния электронов. (Англоязычная версия)

Стандартный №

GB/T 19501-2013

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2013

Разместил

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Последняя версия

GB/T 19501-2013

заменять

GB/T 19501-2004

сфера применения

Настоящий стандарт определяет метод анализа дифракции обратного рассеяния электронов. Настоящий стандарт применяется к анализу идентификации фаз, ориентации кристаллов, характеристик микроструктуры и границ зерен в сканирующем электронном микроскопе и электронном зонде, установленном с принадлежностями для дифракции обратного рассеяния электронов.

GB/T 19501-2013 Ссылочный документ

• GB/T 15074 Общие принципы количественного электронно-зондового анализа*， 2025-03-28 Обновление
• GB/T 27025 Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий*， 2019-12-10 Обновление
• ISO 24173 Микролучевой анализ*， 2024-01-01 Обновление

GB/T 19501-2013 История

• 2013 GB/T 19501-2013 Микролучевой анализ. Общее руководство по анализу дифракции обратного рассеяния электронов.
• 2004 GB/T 19501-2004 Общее руководство по анализу дифракции обратного рассеяния электронов

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации