DS/EN 62047-14:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 14. Метод измерения пределов формирования металлических пленочных материалов.
В стандарте IEC 62047-14:2012 описаны определения и процедуры измерения предела формирования металлических пленочных материалов толщиной от 0,5 мкм до 300 мкм. Описанные здесь металлические пленочные материалы обычно используются в электрических компонентах, MEMS и
DS/EN 62047-14:2012 История
2012DS/EN 62047-14:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 14. Метод измерения пределов формирования металлических пленочных материалов.