DS/EN 62047-14:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 14. Метод измерения пределов формирования металлических пленочных материалов. - Стандарты и спецификации PDF

DS/EN 62047-14:2012
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 14. Метод измерения пределов формирования металлических пленочных материалов.

Стандартный №
DS/EN 62047-14:2012
Дата публикации
2012
Разместил
Danish Standards Foundation
Последняя версия
DS/EN 62047-14:2012
сфера применения
В стандарте IEC 62047-14:2012 описаны определения и процедуры измерения предела формирования металлических пленочных материалов толщиной от 0,5 мкм до 300 мкм. Описанные здесь металлические пленочные материалы обычно используются в электрических компонентах, MEMS и

DS/EN 62047-14:2012 История

  • 2012 DS/EN 62047-14:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 14. Метод измерения пределов формирования металлических пленочных материалов.



© 2023. Все права защищены.