GB/T 18910.1-2012
Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 1: Общая спецификация. (Англоязычная версия)

Стандартный №

GB/T 18910.1-2012

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2012

Разместил

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

состояние

снять со счета 2024-08

Последняя версия

GB/T 18910.1-2012

заменить на

GB/T 18910.11-2024

заменять

GB/T 18910.1-2002

сфера применения

Эта часть GB/T 18910 представляет собой общую спецификацию для жидкокристаллических устройств отображения. Он определяет общие процедуры оценки качества системы IECQ, дает общие требования к методам испытаний электрооптических характеристик, а также дает методы климатических, механических испытаний и испытаний на долговечность. Этот раздел применяется к жидкокристаллическим устройствам отображения, включая жидкокристаллические экраны и модули жидкокристаллических дисплеев,

GB/T 18910.1-2012 Ссылочный документ

• GB/T 17573-1998 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства и интегральные схемы. Часть 1: Общие сведения
• GB/T 18910.11-2012 Устройства жидкокристаллического отображения. Часть 1-1: Терминология и символы.
• GB/T 18910.5-2008 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 5. Методы экологических, ресурсных и механических испытаний.
• GB/T 18910.61-2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-1: Методы измерения жидкокристаллических устройств отображения. Фотоэлектрический параметр
• GB/T 4589.1-2006 Полупроводниковые приборы. Часть 10. Общая спецификация для дискретных устройств и интегральных схем.
• IEC 60068 Базовая процедура испытаний компонентов на климатическую и механическую прочность.
• IEC 60410:1973  Планы и процедуры отбора проб для проверки по признакам
• IEC 60747 Полупроводниковые приборы. Часть 9. Дискретные устройства. Биполярные транзисторы с изолированным затвором (IGBT).*， 2019-11-13 Обновление
• IEC 60748 Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 5. Полузаказные интегральные схемы.
• IEC 60749:1996 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний
• ISO 1101:1983 Технические рисунки; Геометрические допуски; Допуски по форме, ориентации, расположению и биению; Общие положения, определения, символы, обозначения на чертежах.
• ISO 2859 Процедуры отбора проб и таблицы для проверки по признакам — Приложение 1
• QC 001002-1986 Правила процедуры системы оценки качества электронных компонентов МЭК (IECQ)

GB/T 18910.1-2012 История

• 2012 GB/T 18910.1-2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 1: Общая спецификация.
• 2002 GB/T 18910.1-2002 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 1. Общая спецификация.

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

GB/T 18910.1-2012 - Все части