LST EN 62047-10-2011 Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 10. Испытание на сжатие микростолбов для материалов МЭМС (IEC 62047-10:2011) - Стандарты и спецификации PDF

LST EN 62047-10-2011
Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 10. Испытание на сжатие микростолбов для материалов МЭМС (IEC 62047-10:2011)

Стандартный №
LST EN 62047-10-2011
Дата публикации
2011
Разместил
Lithuanian Standards Office
Последняя версия
LST EN 62047-10-2011

LST EN 62047-10-2011 История

  • 2011 LST EN 62047-10-2011 Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 10. Испытание на сжатие микростолбов для материалов МЭМС (IEC 62047-10:2011)



© 2023. Все права защищены.