LST EN 60749-37-2008 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 37. Метод испытания падением уровня платы с использованием акселерометра (IEC 60749-37:2008) - Стандарты и спецификации PDF

LST EN 60749-37-2008
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 37. Метод испытания падением уровня платы с использованием акселерометра (IEC 60749-37:2008)

Стандартный №
LST EN 60749-37-2008
Дата публикации
2008
Разместил
Lithuanian Standards Office
Последняя версия
LST EN 60749-37-2008

LST EN 60749-37-2008 История

  • 2008 LST EN 60749-37-2008 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 37. Метод испытания падением уровня платы с использованием акселерометра (IEC 60749-37:2008)



© 2023. Все права защищены.