LST EN 60749-35-2007
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах (IEC 60749-35:2006)

Стандартный №

LST EN 60749-35-2007

Дата публикации

2007

Разместил

Lithuanian Standards Office

Последняя версия

LST EN 60749-35-2007

LST EN 60749-35-2007 История

• 2007 LST EN 60749-35-2007 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах (IEC 60749-35:2006)