DS/EN 62132-3:2008 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости, от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 3. Метод инжекции большого тока (BCI). - Стандарты и спецификации PDF

DS/EN 62132-3:2008
Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости, от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 3. Метод инжекции большого тока (BCI).

Стандартный №
DS/EN 62132-3:2008
Дата публикации
2008
Разместил
Danish Standards Foundation
Последняя версия
DS/EN 62132-3:2008
сфера применения
В этой части стандарта IEC 62132 описан метод испытания с подачей объемного тока (BCI) для измерения устойчивости интегральных схем (ИС) в присутствии кондуктивных радиочастотных помех, например, возникающих в результате излучаемых радиочастотных помех. Этот метод применим только к микросхемам, которые имеют внешние проводные соединения, например, в жгуте кабелей. Этот метод испытаний используется для подачи радиочастотного тока на один или несколько проводов. Этот стандарт устанавливает общую основу для оценки полупроводниковых устройств, которые будут применяться в оборудовании, используемом в средах, подверженных нежелательным радиочастотным электромагнитным сигналам.

DS/EN 62132-3:2008 История

  • 2008 DS/EN 62132-3:2008 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости, от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 3. Метод инжекции большого тока (BCI).



© 2023. Все права защищены.