DS/EN 62047-10:2011 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 10. Испытание на сжатие микростолбиков материалов МЭМС. - Стандарты и спецификации PDF

DS/EN 62047-10:2011
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 10. Испытание на сжатие микростолбиков материалов МЭМС.

Стандартный №
DS/EN 62047-10:2011
Дата публикации
2011
Разместил
Danish Standards Foundation
Последняя версия
DS/EN 62047-10:2011
сфера применения
В этой части IEC 62047 описывается метод испытаний на сжатие микростолбиков для измерения сжимающих свойств материалов MEMS с высокой точностью, повторяемостью и умеренными усилиями при изготовлении образцов. Измеряется одноосное сжимающее соотношение напряжения и деформации образца, и могут быть получены модуль упругости при сжатии и предел текучести. (отношение диаметра столба к высоте столба) должно быть более 3. Настоящий стандарт распространяется на металлические, керамические и полимерные материалы.

DS/EN 62047-10:2011 История

  • 2011 DS/EN 62047-10:2011 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 10. Испытание на сжатие микростолбиков материалов МЭМС.



© 2023. Все права защищены.