DS/EN 61788-15:2012
Сверхпроводимость. Часть 15. Измерения электронных характеристик. Собственный поверхностный импеданс сверхпроводниковых пленок на микроволновых частотах.

Стандартный №

DS/EN 61788-15:2012

Дата публикации

2012

Разместил

Danish Standards Foundation

Последняя версия

DS/EN 61788-15:2012

сфера применения

В этой части IEC 61788 описаны измерения собственного поверхностного импеданса (ZS) ВТСП-пленок на микроволновых частотах с помощью модифицированного метода диэлектрического резонатора с двумя резонансными модами [13, 14]2. Целью измерений является получение температурной зависимости собственной ZS на резонансной частоте f0. Диапазон частот и толщин, а также разрешение измерения собственной ZS пленок ВТСП следующие: частота: до 40 ГГц;. толщина пленки: более 50 нм;. разрешение измерения: 0,01 мÙ при 10 ГГц. Собственные данные ZS на измеренной частоте, масштабированные до 10 ГГц, с учетом правила f2 для собственного поверхностного сопротивления.

DS/EN 61788-15:2012 История

• 2012 DS/EN 61788-15:2012 Сверхпроводимость. Часть 15. Измерения электронных характеристик. Собственный поверхностный импеданс сверхпроводниковых пленок на микроволновых частотах.

стандарты и спецификации