DS/EN 60749-5:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры и влажности.

Стандартный №

DS/EN 60749-5:2003

Дата публикации

2003

Разместил

Danish Standards Foundation

Последняя версия

DS/EN 60749-5:2003

сфера применения

В этой части стандарта IEC 60749 предусмотрены испытания на долговечность при установившейся температуре и смещении влажности с целью оценки надежности негерметичных корпусных полупроводниковых устройств во влажной среде.

DS/EN 60749-5:2003 История

• 2003 DS/EN 60749-5:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры и влажности.

стандарты и спецификации