DS/EN 60749-3/Corr.1:2004
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр.

Стандартный №

DS/EN 60749-3/Corr.1:2004

Дата публикации

2004

Разместил

Danish Standards Foundation

Последняя версия

DS/EN 60749-3/Corr.1:2004

сфера применения

Целью этой части IEC 60749 является проверка того, что материалы, конструкция, конструкция, маркировка и качество изготовления полупроводникового устройства соответствуют применимому документу на изготовление. Внешний визуальный осмотр является неразрушающим испытанием и применим для всех типов упаковки. Испытание полезно для квалификации, мониторинга процесса или приемки партии, или для того и другого.

DS/EN 60749-3/Corr.1:2004 История

• 2004 DS/EN 60749-3/Corr.1:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр.
• 2003 DS/EN 60749-3:2003 Полупроводниковые приборы. Механический и климатический метод испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр.