IEEE 1500-2005
Стандартный метод тестирования для встроенных интегральных схем на базе ядра Документ IEEE Computer Society

Стандартный №

IEEE 1500-2005

Дата публикации

2005

Разместил

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

состояние

быть заменен

быть заменен

IEEE 1500-2022

Последняя версия

IEEE 1500-2022

сфера применения

Этот стандарт определяет механизм тестирования основных конструкций внутри системы на кристалле (SoC). Этот механизм представляет собой аппаратную архитектуру и использует базовый язык тестирования (CTL) для облегчения взаимодействия между разработчиками ядра и интеграторами ядра.

IEEE 1500-2005 История

• 1970 IEEE 1500-2022 Стандартный метод тестирования IEEE для встроенных интегральных схем на базе ядра
• 2005 IEEE 1500-2005 Стандартный метод тестирования для встроенных интегральных схем на базе ядра Документ IEEE Computer Society