IEC 60811-202:2012 Кабели электрические и оптоволоконные. Методы испытаний неметаллических материалов. Часть 202. Общие испытания. Измерение толщины неметаллической оболочки.

Стандартный №: IEC 60811-202:2012
Дата публикации: 2012
Разместил: International Electrotechnical Commission (IEC)
состояние: быть заменен
быть заменен: IEC 60811-202:2017
Последняя версия: IEC 60811-202:2012/AMD2:2023
заменять: IEC 20/1281/FDIS:2011 IEC 60811-1-1:1993 IEC 60811-1-1 AMD 1:2001 IEC 60811-1-1 Edition 2.1:2001

сфера применения: В этой части 202 стандарта IEC 60811 приведены методы измерения толщины неметаллической оболочки, применимые к наиболее распространенным типам материалов оболочки (сшитый ПВХ@ ПЭ@ ПП и т.д.).

IEC 60811-202:2012 История

2023 IEC 60811-202:2012/AMD2:2023
2017 IEC 60811-202:2012/AMD1:2017 Кабели электрические и волоконно-оптические. Методы испытаний неметаллических материалов. Часть 202. Общие испытания. Измерение толщины неметаллической оболочки; Поправка 1
2017 IEC 60811-202:2017 Кабели электрические и оптоволоконные. Методы испытаний неметаллических материалов. Часть 202. Общие испытания. Измерение толщины неметаллической оболочки.
2012 IEC 60811-202:2012 Кабели электрические и оптоволоконные. Методы испытаний неметаллических материалов. Часть 202. Общие испытания. Измерение толщины неметаллической оболочки.